科研級(jí)CMOS帶來分析性能飛越
開創(chuàng)性采用全新科研級(jí)CMOS傳感器，帶來更好的靈敏度
利用CMOS傳感器快速讀取的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)元素獨(dú)立的參數(shù)優(yōu)化與采集分析，將該項(xiàng)新技術(shù)命名為 OEO（Optimal Element-Oriented）
檢測(cè)下限可達(dá)到1ppm，甚至更低
A-CMOS傳感器對(duì)紫外波段元素 (C、P、S、N) 靈敏度更高
終身不需漂移校正，重新定義穩(wěn)定性
壓鑄鋁合金整體光室，4級(jí)消除應(yīng)力處理
光室恒溫設(shè)計(jì)，保證光譜位置長期穩(wěn)定，不漂移
氣流路的精確設(shè)計(jì)，一切為了結(jié)果更穩(wěn)定
RTMC光譜優(yōu)化技術(shù)
“抱緊式”電極卡緊設(shè)計(jì)，避免電極移動(dòng)，對(duì)數(shù)據(jù)穩(wěn)定性有更大幫助
高能預(yù)熱脈沖合成全數(shù)字光源
雙光室設(shè)計(jì)，分辨率有保障
雙光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，光譜范圍寬、分辨率高
紫外波段元素（N，P，S，C）獨(dú)立光室分析，效果好
無真空泵運(yùn)動(dòng)部件，光室無形變及油污風(fēng)險(xiǎn)
高易用性，更佳體驗(yàn)
可在10s內(nèi)完成一次分析，節(jié)約氬氣2/3，節(jié)約生產(chǎn)過程成本
強(qiáng)大的ASR （Aberrant Spark Removed ） 技術(shù)，移除異常激發(fā)火花，降低樣品制備要求，有裂紋也不影響分析
軟件主界面簡潔清晰，圖形化顯示，提升工作效率
A-Care遠(yuǎn)程云服務(wù)功能，可遠(yuǎn)程升級(jí)固件程序，遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài)，對(duì)儀器生命周期健康負(fù)責(zé)
設(shè)備狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控，直觀了解每個(gè)模塊的運(yùn)行狀況
